外文翻译-相控阵列对比相控阵列-波束扫描对比编码数据采集.doc
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1、XX大学毕业设计文献翻译与原文题目: 相控阵列对比相控阵列-波束扫描对比编码 数据采集 学 院: 测试与光电工程学院专业名称: 测控技术与仪器班级学号: 学生姓名: 指导教师: 二Oxx 年 四 月 中文翻译相控阵列对比相控阵列-波束扫描对比编码数据采集J. 马克戴维斯1 与 迈克尔莫尔斯2 2加拿大奥林巴斯无损检测 ,加拿大,安大略省,多伦多,电话:(416) 831 442网络传真:(905) 248 -3546,邮箱:Michael.moles,网址: 1J. 马克戴维斯, 戴维斯无损评价有限责任公司., 美国,亚拉巴马州,伯明翰, 电话:(205) 733 -0404,邮箱:mkdav
2、is, 网址:摘要本文描述了手动和编码相控阵列设备之间的不同。仅增加一个编码器在技术上不难实现,那么软件需求和优化的性能变得更为重要。由于规范或技术限制,很多无损检测应用领域无法用手动(或“波束扫描”)相控阵列装置来完成。引言人们有充分的理由相信,相控阵列是现今无损检测方向最热门的技术之一。与传统的超声波技术相比,相控阵列技术拥有明显的优势: 速度;对于焊缝,锈蚀和其他部件,线性(线路扫描)扫描可以大幅地提高扫描速 度(并且因此减少开支)。 成像;S-扫描,E-扫描和其他2D及3D成像能提供更好和更容易判断的缺陷评估。 灵活性;相控阵列可以对很多不同类型的部件所存在的多种多样的缺陷进行多种扫
3、描(1)。 数据存储;完整的甚或部分的数据存储和显示能容许更好的缺陷判读,外加可以用 于存档目的。 可重复性;尽管还未曾被第三方实验证实过,但使用同样的带有相控阵列的设备和 程序能比使用带有手动超声波的设备和程序提供更多的可重复性结果。然而,目前市场上可用的相控阵列设备远不止一种。除了早已应用了数十年的一款体积庞大且不方便携带的装置,仍有很多制造商生产便携式设备。便携式相控阵列设备本身可以划分成两类:手动的和编码的,两者的区别和性能很值得注意。本文描述了各种各样的特征和性能,并且提到了一些可以使用手动和编码设备的不同类型的应用领域。相控阵列技术在综述里提及,因此本文不会再详细描述。对物理成分,
4、硬件,软件和应用样本的广泛评估,参见(1)波束扫描相控阵列设备波束扫描设备,如手动设备,操作起来就像也能扫描波束的高档单晶体设备一样。这些设备使用手动握持阵列,与手动探测器使用方式一样,例如,阵列在焊缝和部件上来回扫描,操作者通过屏幕观察缺陷。主要的不同之处在于观察者也可以看见S-扫描(参见图1和图3示例)或者E-扫描,这些扫描可以辅助缺陷分析。总之,尽管屏幕显示可以存储和报告,数据并不被采集。一些手动设备可以使用时基数据采集来收集扫描数据;然而,跟编码数据相比这种数据本质上是不可靠的,因为所测量的缺陷长度将会取决于操作者的扫描速度,且其长度无法校准。时基扫描,或者波束扫描,尤其不能被诸如美国
5、工程师协会规范案例2235(2)之类的自动超声波测试规范所接受。为什么购买波束扫描设备?以下是几种可能的原因。如果这设备能每次展现多重A-扫描(如美国焊接协会D1:1检查标准的45,60和70o-参见参考文献3),那么潜在地,操作者可以扫描得更快.(当然,此设备标准必须符合美国工程师协会或者其他规范。)如上所提,在某些情况下2D成像可以提高缺陷评估和数据存储水平。对于一些应用领域诸如氢致裂纹,一套波束扫描设备可能足够了。而且花费也比较低。波束扫描设备实际上所不能做的就是储存完整数据,同时地执行多重功能和进行线性扫描。以下均会涉及到。很多不同的制造商都有波束扫描设备,图1显示的是一个典型的手动相
6、控阵列设备。图1:商用波束扫描(或手动)相控阵列设备:Olympus 无损检测 全方位扫描M(“手动”相控阵列版)。注意其他制造商也生产波束扫描设备。编码相控阵列设备编码相控阵列设备能用编码器收集和储存扫描数据,并探测位置数据。虽然这听上去没什么大不了-毕竟,往电子设备上添加一个编码器理论上并不难-真正的重点在于其软件。编码相控阵列设备可以收集完整的A-扫描波形数据,存储和处理显示,以提供“顶部,侧边,底部”视图,并处理此数据。换句话说,编码相控阵列设备是便携式的,花费低的AUT(自动超声波测试)系统,而波束扫描相控阵列设备是重要的单晶体设备。扫描的数据可以在线下数据分析中重复播放。编码相控阵
7、列设备为焊缝等部件提供主要的时间和成本优势。图2a展示了传统的光栅检测过程,用探测器向着焊缝来回移动。另一方面,图2b展示了利用“线性扫描”进行的焊缝检测,例如,在列阵进行光栅扫描时用单程平行扫描焊缝进行检测。波束扫描相控阵列设备进行光栅扫描(图2a),而编码相控阵列设备也能进行线性扫描(图2b)。图2a(左),常规光栅扫描。图2b(右)线性扫描。线性扫描在速度方面提供了重要优势,或许比单晶体检测速度高达5至10倍。除了采集和显示所有的缺陷,一些编码相控阵列设备能同时进行多方位扫描,例如,它们能在一个单程扫描中完成编码要求,此过程需要阵列在焊缝任意一侧进行(参见图3).更先进的设备还能够进行诸
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